探针台
Probe Stations
原子力显微镜(Atomic Force Microscope,简称AFM)是一种用于研究表面形貌和表面特性的高分辨率扫描探针显微镜。它利用微悬臂上的针尖与样品表面之间的相互作用力来获取表面形貌和表面特性信息。AFM可以测试各种材料表面的形貌、粗糙度、弹性、硬度、化学反应等特性,广泛应用于纳米科学研究领域。
波导结构:

高分子聚合物表面吸附情况:

薄膜表面弹性模量(QNM):

磁盘的磁性(MFM):

石墨烯摩尔晶格(CAFM):

隧道电流(CAFM):

二维材料(LFM):

原生六角铁电畴(PFM):

极化出的图案化畴(HV-PFM):

