探针台
Probe Stations
低维材料
2D Material Transfer Platform
运动控制
Motion Control
光学平台与光学面包板
Optical platform and breadboard
光波导耦合系统
Optical waveguide coupling system
OCT 成像系统
OCT Imaging System
光源
Light Source
光电探测与分析
Beam Measurement and Control
显微观察
Microscopic observation
光电测试系统
Optoelectronic test system
教学/科研光路系统
Scientific optical path system
其他设备及软件
Other equipment and software
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工作距离长；
用于明场检测；
高质量平场复消色差设计；
螺纹接口：M26 x 0.706；
波长范围 ：436nm - 656nm；
适合透过厚度3.5mm玻璃(材质：BK7)观察的校正设计（※根据厚度、材质、折射率进行设计制作）
明视场观察
波长校正范围 436～656nm(基波波长设计为587nm)
无限远校正
长工作距离
平场复消色差规格
明视场（Bright）/（Dark）暗视场观察
适用于表面划痕、凹凸的观察
平场复消色差
HR：高分辨力规格（分辨力：比标准型高）
