探针台
Probe Stations
谱量光电 电致发光测试系统是一种用于测量发光器件(如OLED,QLED,PeLED等)光电性能的高精度设备。测试系统经过可溯源的光源进行定标,能够进行测量亮度、色坐标、辐射通量、V-I 特性、EQE等数据。整体系统体积小巧、操作简单、测试高效等特性。系统主要由积分球、光纤光谱仪、多模光纤、Keithley数字源表、样品夹具、积分球支架等组成。积分球采用进口的高漫反射材料PTFE高温烧制而成,反射率高达99%,光谱范围200-2500nm都具有良好的朗伯特性。光纤光谱仪采用滨松制冷型面阵CCD传感器,具有高灵敏度、低噪声、高信噪比低温漂等特点。通过制冷技术抑制探测器热噪声,光谱仪的暗电流显著降低,信噪比大幅提升,同时能够检测到更微弱的光信号。
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积分球光谱范围
200-2500nm |
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光谱仪光谱范围
200-1100nm |
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光学接口
SMA905 |
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积分球内胆材料
PTFE |
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源表
Keithley 2450型 数字源表 |
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光谱仪探测器类型
滨松制冷型面阵CCD传感器 |
PLCTS 电致发光测试系统主要由积分球、光纤光谱仪、多模光纤、Keithley数字源表、样品夹具、积分球支架等组成。光纤光谱仪采用滨松制冷型面阵CCD传感器,不仅具有高灵敏度、低噪声、高信噪比低温漂等特点,还能够检测到更微弱的光信号。工作波长为200nm-1100nm,积分球采用进口的高漫反射材料PTFE高温烧制而成,反射率高达99%,光学接口选用标准的SMA905,具有良好的朗伯特性。样品夹具可根据客户要求定制。适用于量子点发光二极管、有机发光二极管、钙钛矿发光二极管等发光器件测试分析。