• 可测样品种类：粉末、块状、薄膜样品、液体；
• 可测功能： 材料表面分析和深度剖析、物相鉴定和定量、粒度分析、薄膜厚度及粗糙度分析；
• 可以用于研究材料的结构和性质，如晶格常数、晶体结构、晶体缺陷等；材料表面分析和深度剖析、物相鉴定和定量、粒度分析、薄膜厚度及粗糙度分析
• 广泛应用于各种领域，包括材料科学、药物研究、催化剂研究、能源产业等；

     X射线衍射仪（XRD）采用Panalytlcal Empyrean ，是一种通过对材料进行X射线衍射，分析其衍射图谱，获得材料的成分、材料内部原子或分子的结构以及形态等信息的研究手段。XRD测试既可以进行定性分析也可以进行定量分析。其中定性分析可以判断物相是否存在，可以对单一物相及混合物相进行鉴定或验证；定量分析可以根据衍射线的强度分布情况，判断各个物相的相对含量；适用于材料科学、新能源、半导体、化工医药、地质矿产等多行业，满足多尺度、多类型材料的晶体结构全方位分析。