一、 定义与核心关系

1、轴向分辨率：指OCT系统在深度方向（轴向）上区分相邻结构的能力，通常由光源的中心波长（λ₀）和带宽（Δλ）决定，理论公式为：

Δz=2ln⁡2π⋅λ02Δλ

其中，ΔzΔz 为轴向分辨率，λ0为中心波长，ΔλΔλ 为光谱带宽。
带宽越宽，分辨率越高（ΔzΔz 越小）。

2、成像深度：指OCT能探测的最大光学路径长度，由光源的中心波长和探测器的采样间隔决定。对于频域OCT（FD-OCT），成像深度为：

其中，δλδλ 是光谱采样间隔（与光谱仪的分辨率相关）。
更小的采样间隔（更高光谱分辨率）可增加成像深度，但会牺牲其他性能（如速度）。

二、两者的独立性

1、物理机制不同：

1）轴向分辨率取决于光源的相干特性（带宽）。

2）成像深度主要由探测系统的光谱分辨能力（如光谱仪的像素数、采样率）决定。

3）因此，理论上可以通过选择不同光源和探测器独立优化这两个参数。

2、技术实现示例：

1）使用超宽带光源（如λ₀=1300nm，Δλ=300nm）可实现高轴向分辨率（如2μm），但成像深度仍由光谱仪设计决定。

2）增加光谱仪的像素数可提升成像深度，但不直接影响分辨率。

三、实际系统中的相互制约

尽管独立，但在系统设计中二者可能间接关联：

1、光谱仪带宽与采样率的权衡：
高分辨率（宽带宽）光源需要光谱仪具备更精细的采样（更多像素）以维持成像深度，否则可能导致深度范围不足。

2、信号处理限制：
更深的成像需要更长的干涉信号采样，可能增加数据处理负担，但对分辨率无直接影响。

3、散射与信噪比（SNR）：
在深层组织中，散射会降低信号强度，可能导致高分辨率难以实际利用（尽管理论分辨率不变）。

OCT成像系统

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