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红外款光束质量分析仪

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产品说明
  • 波长范围:350-2100nm(可选);
  • 光斑直径测量范围:50μm-15mm(可选);
  • 兼容测量连续以及脉冲激光器;
  • 最大功率测量至1W;
  • 用于测量激光光束的光斑大小、光斑强度分布、椭圆度,实时监测光束形状以及稳定性等;

     谱量光电 红外款光束质量分析仪用于测量和分析红外激光光束质量的专业设备,主要用于测量850nm,1310nm和1550nm等通讯波长的激光光束的光斑大小、椭圆度,实时监测光束形状以及稳定性等。不仅兼容测量连续以及脉冲激光器;还支持最大功率测量至1W。波长范围350-2100nm具有四款红外款光束分析仪可选,非常适合于光路调试、激光腔镜调整、外光路准直,光纤对准耦合分析、激光束轮廓分析等应用。

通用参数
波长范围
350-2100nm(可选)
光斑直径测量范围
50μm-15mm(可选)
最大功率测量
1W
光学接口
C-Mount
传感器类型
InGaAs

红外款光束质量分析仪
  • 波长范围:350-2100nm(可选);
  • 光斑直径测量范围:50μm-15mm(可选);
  • 兼容测量连续以及脉冲激光器;
  • 最大功率测量至1W;

PLCTS 红外款光束质量分析仪设计结构小巧,标配支架,衰减。波长范围350-2100nm具体四款不同波段可选,光学接口采用标准C-Mount接口,可便于选加额外衰减片组装,标准最大功率测量至1W。并且兼容测量连续以及脉冲激光器,光斑直径测量范围50μm-15mm范围可选。

光束分析界面
产品型号 波长范围 光斑测量范围 最大测量功率 PC接口 对比 单价 发货日期 购物车
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