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Probe Stations
低维材料
2D Material Transfer Platform
运动控制
Motion Control
光学平台与光学面包板
Optical platform and breadboard
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Optical waveguide coupling system
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光电探测与分析
Beam Measurement and Control
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光电测试系统
Optoelectronic test system
教学/科研光路系统
Scientific optical path system
其他设备及软件
Other equipment and software
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紧凑设计,标配支架,衰减,使用方便;
光斑直径测量范围:22μm-22mm;
兼容脉冲和连续激光测量;
波长范围:190-1350nm(可选);
适用于全固态激光、光纤激光以及半导体激光等光源测量;
波长范围:350-2100nm(可选);
光斑直径测量范围:50μm-15mm(可选);
兼容测量连续以及脉冲激光器;
最大功率测量至1W;
用于测量激光光束的光斑大小、光斑强度分布、椭圆度,实时监测光束形状以及稳定性等;
波长范围:340-1100nm;
检测精度:≤5%;
操作简单、快速一键式测量;
内置衰减器调节方式:电动转盘(6 孔位)+手动插槽(2 插槽位);