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M²测量系统

  • 参数规格
  • 软件测试界面
  • M²测试
产品说明
  • 波长范围:340-1100nm;
  • 检测精度:≤5%;
  • 兼容脉冲和连续激光测量;
  • 操作简单、快速一键式测量;
  • 内置衰减器调节方式:电动转盘(6 孔位)+手动插槽(2 插槽位);

     谱量光电 M²测量系统一体化机身设计,操作简单、快速一键式测量。配置高精度电动导轨及高分辨率光斑分析仪捕捉激光光斑图像,并通过自主研发的分析软件测试M2因子、发散角、聚焦直径、束腰位置、瑞利长度以及其他激光光束质量参数。 M²测量系统整体准确度≤5%,光谱检测范围340-1100nm,M² 范围可测1-50;并且兼容脉冲和连续激光测量,适用于激光技术、光纤通信,生物医学,激光加工制造等领域。

通用参数
波长范围
340-1100nm
检测精度
≤5%
M²范围
1-50
内置衰减器
OD0.5/OD1/OD1.5/OD2/OD3/OD4
标准镜头
F300mm


M²测量系统
  • 波长范围:340-1100nm
  • 检测精度:≤5%;
  • 兼容脉冲和连续激光测量;
  • M²范围:1-50;

PLCTS M²测量系统整体准确度≤5%,光谱检测范围340-1100nm,M² 范围可测1-50;并且兼容脉冲和连续激光测量,软件测试M2因子、发散角、聚焦直径、束腰位置、瑞利长度以及其他激光光束质量参数。

M²测量示意图
产品型号 波长范围 M²范围 激光功率范围@连续 激光功率范围@脉冲 对比 单价 发货日期 购物车
BAPS02-EH 340-1100nm 1-50 1μW–10W/cm² 10μJ–10mJ/cm²
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